私のはSolid State DiskになりましたかSuper Slim Doorstopper？
これは長い質問であることは承知していますが、できるだけ詳しく、有益な情報となるよう努めました。tl;dr質問の前半は単に飛ばしてください。ただし、そこに含まれる情報は問題に関連している可能性があります。
どうしたの
まず、私は現在猛暑に見舞われている地域に住んでいます。ここ 2 ～ 3 週間、部屋の室内温度は 30°C を下回ったことがありません。ここ数日は、真夜中でも 34°C を下回ったことがありません。エアコンはなく、ファンもほとんど機能していません。SSD の温度センサーは壊れているようで (常に 5°C を報告)、HDD はほぼ常に 48°C、54°C、54°C でした。GPU は約 60°C、CPU は約 52°C です。これは良くありませんが、私にとってはまだ許容できる範囲です。
昨晩、64GB SSD 上の Arch Linux を搭載した PC を使っていたところ、すべてがフリーズしてしまいました。マシンに SSH で接続することすらできなくなってしまいました。少なくとも SSH 接続が確立されることを期待して 30 分ほど待った後、電源を切るしかありませんでした。また、Audacity を使用すると PC が本当に遅くなることがあることも付け加えておきます (Audacity は NTFS ファイルシステムをサポートしていないようで、私の SSD は私が持っている唯一の非 NTFS ファイルシステムであるため、一時データを SSD に書き込みます)。最近、これいっぱいになると SSD の速度が遅くなるという質問です。Audacity の録音が大量にあるため、SSD の使用領域が毎日ではないにしても週に何度も 95% 以上になります。
そこで、PC の電源を切った後、再度電源を入れようとしたところ、BIOS 画面ですべてのディスクが調べられ、SSD が と表示されましたS.M.A.R.T. error。grub (別のドライブ) を起動し、arch (別のドライブのブート パーティションも) を起動しようとすると、Device /dev/mapper/mydisk-root not foundなどのメッセージが表示されました。 は、mydisk-rootLUKS で暗号化された SSD のボリューム グループ内のルート パーティションである必要があります。そこで、何度か再起動を試みましたが、常に同じ結果になったため、最終的にはあきらめて、PC (電源ユニット) の電源を切り、スリープ状態になりました。
次に私が行ったアクション
目が覚めた後、ライブ Linux USB を起動して SMART スキャンを実行し、dmesg などを確認したいと思いました。突然、BIOS がS.M.A.R.T. ok再び表示しました。ライブ USB を使い続けましたが、通常どおり SSD のロックを解除してマウントすることができました。問題なくフル バックアップも実行できました。
その後、SMART テストを受けました。longテストは 50% で 2 回失敗しました。詳細は以下をご覧ください。shortテストは完了しましたが、結果に悪いところは見当たりません。最後に受けた SMART テストは 2 週間前のもので、テストでしたlong(テスト ログを参照)。すべて問題ありませんでした。
質問 1: 私の SSD はどれくらい劣化していますか?
これは私がテストを試みた SMART 属性テーブルの出力です。したがって、これらは2 週間前に行ったテストbeforeの結果と同じであるはずです。long
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
これは、今日失敗したテストの完全な-a結果ですlong(テスト ログを参照)。
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 117) The previous self-test completed having
the read element of the test failed.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 3 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 4 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 5 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
これは、今日成功したテストの完全な-a結果です。short
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 23891 -
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 3 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 4 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 5 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 6 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
3 つの属性テーブルがすべて同じであるのが、とても面白いと思います。それとも、何か見落としているのでしょうか? 私は SMART の専門家ではありませんが、私の知識によると、これら 3 つの結果はすべて完璧です。(?) まだ試していませんが、マウントしてファイルを取得できたので、BIOS が再びそれを報告しているので、okもう一度起動できると思います。でも、そうすべきでしょうか?
質問2: なぜこのようなことが起こったのでしょうか?
これは単に経年劣化によるものでしょうか、それとも SSD で Audacity を頻繁に使用したことによるものでしょうか?
SSD の使用領域が常に 90 ～ 100% に達することに関係があるのでしょうか?
どうすればすべて順調にもうSMARTテストもできないたった2週間以内に？
これらのスマート テストの結果は何を示していますか? 今日のテスト後の属性テーブルは、私にとってはまだ素晴らしいように見えますが、それとも間違っているのでしょうか?
質問3: これは伝染しますか?
この SSD が壊れて新しいものを購入した場合、単純にdd if=/old/ssd of=/new/ssdそれで大丈夫でしょうか、それとも問題が起きるでしょうか? 新しいディスクに移行するにはどのような方法が一番良いでしょうか? デバイス全体で LUKS をヘッダーを分離した RAW モードで使用しており、そのすべてを新しいディスクに「クローン」したいと考えていることに注意してください。
編集：もう一度その SSD で起動したところ、動作するようです。ただし、この SSD を使用するのは良くないと思うので、できるだけ早く新しい SSD を入手します。以下は、クラッシュ前の syslos の最新エントリです。
答え1
SMART ステータスには、古いインジケーターや死につつあるインジケーターが多数表示されますが、特に「これで死んだ!」と叫ぶようなものはありません。
ログには、電源オンの寿命が 995 日と 10 時間であることが示されています。これは、マシンを常時オンにしておくことを示唆していますが、それ自体は悪いことではありません。これは、オペレーティング システムが記録を保持し、一般的な使用を行う際に、ドライブに長時間にわたって小さな書き込みが行われたことを意味します。
私にはSSDが古くて消耗しているように見えますPerc_Rated_Life_Used。Erase_Fail_Count
私にとって心配なのは、95% 以上の使用率に「定期的に」達することです。これにより、ウェア レベリング アルゴリズムが機能するのに使用できる空きブロックのプールが減ります。スペースが不足しているときに、少数のブロックに実質的に大きな負荷がかかり、大量の書き込みレベルを持つ小さなブロックのクラスターが形成されますが、ドライブ全体の平均は非常に低くなります。これを繰り返し行うことで、ウェア レベラーはおそらく最初に書き込む「最適な」(書き込みが最も少ない) ブロックを選択しますが、100% 使用率に達すると「最悪の」ブロックが残ります。これを一般的なプログラムとタスクを実行するオペレーティング システムと組み合わせると、最悪のブロックがはるかに早く消耗することになります。これは、ドライブの最悪の部分に負荷をかけ、早期に寿命を迎えるのに最適な方法です。
特に SSD がほぼいっぱいのときは、重要なファイルシステムと SSD ブックキーピング機能がドライブに定期的に書き込まれる可能性が高いため、最悪のセルに強制的に配置され、遅かれ早かれ何か悪いことが起こります。再割り当て可能なブロックが不足し、重要な構造を移動できない場合は、ドライブ自体がデッドロックする可能性があります。
ドライブに常にある程度の空き容量を確保しておくべきだと言われるのは、空き容量が少ないほど、その領域をより効率的に活用できるからです。は無料。
経年劣化と、小さなブロックのグループへの大量の書き込みにより、ドライブの一部が摩耗している可能性があります。
必要なものを新しいドライブにコピーすれば問題ない可能性が高いです。このようなハードウェア障害は伝染する傾向がありません。