SSD が突然極端に遅くなる(50 倍遅くなる)

SSD が突然極端に遅くなる(50 倍遅くなる)

私は、Ubuntu 12.04 サーバーで約 460 GB のデータ用に SSD を使用しています。(ドライブは 560 GB を保持できるので、約 88% 使用されています。) データへのランダム アクセス (書き込みなし) を頻繁に行うプログラムがあり、最後に (通常どおり) 実行したのは数日前です。昨日実行したところ、突然、以前よりも大幅に遅くなりました。プログラムは、ドライブへのランダム アクセスのみを実行します。

以前は 1 秒あたり約 5000 回のランダム ルックアップを実行できましたが、現在は約 100 回しか実行できません。これは、HDD へのランダム アクセスよりも遅いです。(昨年、いくつかの問題をベンチマークしました。)

最近やったことは、gcc 4.7 をインストールして、すべてのパッケージをアップグレードしただけです。しかし、すべてを clang でコンパイルしてみましたが、違いは見られませんでした。

ドライブは としてフォーマットされており、ext4オプションは のみですerrors=remount-ro。マシンを再起動してデバイスをトリミングしてみましたが、状況は変わりませんでした。コードをプロファイリングすると、 、 、 の呼び出しにすべての時間を費やしていることがわかりますopenclose( mmap を直接呼び出しているのではなく、すべて-styleと の呼び出しmmapを使用していることに注意してください。)Cfopen fseekfread

何が原因か分かりますか? 改善する可能性があれば、ドライブを再フォーマットすることもできます。

編集:2TB HDDと500GB SSDのベンチマークデータはこちら

sudo hdparm -Tt /dev/sdb1

/dev/sdb1:
 Timing cached reads:   6814 MB in  2.00 seconds = 3410.05 MB/sec
 Timing buffered disk reads: 458 MB in  3.00 seconds = 152.45 MB/sec

sudo hdparm -Tt /dev/sdc1

/dev/sdc1:
 Timing cached reads:   6890 MB in  2.00 seconds = 3447.93 MB/sec
 Timing buffered disk reads: 780 MB in  3.01 seconds = 259.36 MB/sec

以下は出力ですsmartctl:

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Intel 320 Series SSDs
Device Model:     INTEL SSDSA2CW600G3
Serial Number:    CVPR140004B7600FGN
LU WWN Device Id: 5 001517 9596df196
Firmware Version: 4PC10362
User Capacity:    600,127,266,816 bytes [600 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   8
ATA Standard is:  ATA-8-ACS revision 4
Local Time is:    Sun Jan 26 16:46:53 2014 MST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00) Offline data collection activity
                    was never started.
                    Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                    without error or no self-test has ever 
                    been run.
Total time to complete Offline 
data collection:        (    1) seconds.
Offline data collection
capabilities:            (0x75) SMART execute Offline immediate.
                    No Auto Offline data collection support.
                    Abort Offline collection upon new
                    command.
                    No Offline surface scan supported.
                    Self-test supported.
                    Conveyance Self-test supported.
                    Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                    power-saving mode.
                    Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                    General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time:    (   1) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    (   1) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time:    (   1) minutes.
SCT capabilities:          (0x003d) SCT Status supported.
                    SCT Error Recovery Control supported.
                    SCT Feature Control supported.
                    SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 5
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  3 Spin_Up_Time            0x0020   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
  4 Start_Stop_Count        0x0030   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       17833
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       13
170 Reserve_Block_Count     0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
171 Program_Fail_Count      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
172 Erase_Fail_Count        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
183 Runtime_Bad_Block       0x0030   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
184 End-to-End_Error        0x0032   100   100   090    Old_age   Always       -       0
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
192 Unsafe_Shutdown_Count   0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       5
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0030   100   100   000    Old_age   Offline      -       0
225 Host_Writes_32MiB       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       3236658
226 Workld_Media_Wear_Indic 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       4973
227 Workld_Host_Reads_Perc  0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       65
228 Workload_Minutes        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       1067143
232 Available_Reservd_Space 0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
233 Media_Wearout_Indicator 0x0032   096   096   000    Old_age   Always       -       0
241 Host_Writes_32MiB       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       3236658
242 Host_Reads_32MiB        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       6437718

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]


Note: selective self-test log revision number (0) not 1 implies that no selective self-test has ever been run
SMART Selective self-test log data structure revision number 0
Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

[編集: この問題については、バックグラウンドで引き続き取り組んでいます。解決したら、ここに投稿します。]

答え1

最終的な答えは、ちょっと恥ずかしいものです。答えがわかるはずだったのに、間違った場所を探していたのです。決定的な手がかりは、HDD の速度に関する質問の中にありました。テストの結果、HDD も遅くなっていることがわかりました。

ディスク上のデータの読み取りを処理する私のクラスには、内部バッファーのデフォルトの読み取りサイズがあります。ランダム アクセスを行う場合、バッファーされたデータは後で使用しないため、このサイズは比較的小さくする必要があります。ファイル全体にわたって操作を順番に実行する場合、データを再利用するため、値が大きいほどパフォーマンスが向上します。これは共有コード内の定数であるため、コードを使用する 1 つのアプリケーションをチューニングすると、ランダム アクセスのチューニングが実質的に壊れ、私が経験した大幅な速度低下の原因となりました。

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