Ist aus mir Solid State Diskein geworden Super Slim Doorstopper?
Ich weiß, dass dies eine lange Frage ist, aber ich habe versucht, sie so ausführlich und informativ wie möglich zu gestalten. tl;drÜberspringen Sie einfach die erste Hälfte der Frage, obwohl ich denke, dass die darin enthaltenen Informationen für das Problem relevant sein könnten.
Was ist passiert
Zunächst einmal: Ich lebe in einer Gegend, die derzeit unter einer massiven Hitzewelle leidet. Die Innentemperatur meines Zimmers war in 2-3 Wochen nie unter 30°C. Seit Tagen ist sie nie unter 34°C, nicht einmal mitten in der Nacht. Ich habe keine Klimaanlage und mein Lüfter tut praktisch nichts. Der Temperatursensor meiner SSD scheint kaputt zu sein (meldet immer 5°C), meine Festplatten waren fast immer bei 48°C, 54°C und 54°C. GPU um die 60°C und CPU um die 52°C. Das ist nicht gut, klingt für mich aber immer noch erträglich.
Letzte Nacht habe ich meinen PC benutzt, Arch Linux auf einer 64 GB SSD, als alles einfror. Ich konnte nicht einmal mehr per SSH auf die Maschine zugreifen. Nachdem ich also eine halbe Stunde gewartet hatte, in der Hoffnung, zumindest eine SSH-Verbindung herzustellen, musste ich den Strom abschalten. Ich möchte auch erwähnen, dass mein PC manchmal sehr langsam wurde, wenn ich Audacity benutzte (schreibt temporäre Daten auf die SSD, da Audacity NTFS-Dateisysteme anscheinend nicht unterstützt und meine SSD das einzige nicht-NTFS-Dateisystem ist, das ich habe) und dass ich kürzlich aufDasFrage, die sich darauf bezieht, dass SSDs langsamer werden, wenn sie voll sind. Ich kann sagen, dass meine SSD aufgrund vieler Audacity-Aufzeichnungen mehrmals pro Woche, wenn nicht sogar täglich, auf +95 % des belegten Speicherplatzes kommt.
Nachdem ich den PC ausgeschaltet hatte, versuchte ich ihn wieder einzuschalten. Auf dem BIOS-Bildschirm wurden alle Festplatten durchgegangen und die SSD sagte S.M.A.R.T. error. Nachdem ich Grub gestartet hatte (auf einer anderen Festplatte) und versucht hatte, in Arch zu booten (Bootpartition auch auf einer anderen Festplatte), erhielt ich die Meldung Device /dev/mapper/mydisk-root not found, oder etwas Ähnliches. mydisk-rootsollte die Root-Partition innerhalb der Volume-Gruppe meiner mit LUKS verschlüsselten SSD sein. Ich versuchte also ein paar Mal, den PC neu zu starten, erhielt aber immer das gleiche Ergebnis, bis ich schließlich aufgab, den PC ausschaltete (am Netzteil) und in den Ruhezustand ging.
Nächste von mir durchgeführte Aktionen
Nachdem ich aufgewacht war, wollte ich einen Live-Linux-USB-Stick booten, um einen SMART-Scan durchzuführen, dmesg anzusehen, was auch immer es gibt. Plötzlich sagte das BIOS S.M.A.R.T. okwieder etwas. Ich machte jedoch mit dem Live-USB-Stick weiter, wo ich die SSD wie üblich entsperren und mounten konnte. Ich konnte auch problemlos ein vollständiges Backup durchführen.
Dann wollte ich einen SMART-Test machen. Ein longTest ist zweimal bei 50 % fehlgeschlagen, Einzelheiten siehe unten. Ein shortTest wurde abgeschlossen und ich kann in den Ergebnissen nichts Schlechtes erkennen. Der letzte SMART-Test, den ich gemacht habe, war erst vor 2 Wochen, es war ein longTest (siehe Testprotokoll) und alles war in Ordnung.
Frage 1: Wie kaputt ist meine SSD?
Dies ist die Ausgabe der SMART-Attributtabelle. beforeIch habe einige Tests durchgeführt, daher denke ich, dass dies die Ergebnisse des longTests sein sollten, den ich vor zwei Wochen durchgeführt habe:
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
Dies ist das vollständige -aErgebnis nach dem longheutigen Testversuch, der fehlgeschlagen ist (siehe Testprotokoll):
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 117) The previous self-test completed having
the read element of the test failed.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 3 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 4 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 5 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Dies ist das vollständige -aErgebnis nach dem shortheutigen Testversuch, der erfolgreich war:
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 23891 -
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 3 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 4 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 5 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 6 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Ich finde es sehr lustig, dass alle drei Attributtabellen gleich sind. Oder übersehe ich hier etwas? Ich bin kein SMART-Experte, aber meines Wissens nach sind das alles drei perfekte Ergebnisse. (?) Ich habe es noch nicht versucht, aber da das Mounten und Abrufen der Dateien funktioniert hat und das BIOS es wieder meldet, okgehe ich davon aus, dass ich es auch erneut booten könnte. Sollte ich das aber?
Frage 2: Warum ist das passiert?
Ist das einfach eine Alterungssache oder wurde das durch meine ständige Verwendung von Audacity auf der SSD verursacht?
Hat es etwas damit zu tun, dass die SSD ständig zu 90–100 % belegt ist?
Wie kann es vonalles ist gutZuIch kann nicht einmal mehr einen SMART-Test durchführeninnerhalb von nur zwei Wochen?
Was sagen diese Smart-Testergebnisse aus? Die Attributtabelle nach dem heutigen Test sieht für mich immer noch super aus, oder täusche ich mich da?
Frage 3: Ist das ansteckend?
Wenn diese SSD kaputtgehen würde und ich eine neue kaufen müsste, wäre das dann dd if=/old/ssd of=/new/ssdkein Problem oder würde das Probleme verursachen? Was wäre der beste Ansatz, um auf eine neue Festplatte umzusteigen? Bitte beachten Sie, dass ich LUKS auf dem gesamten Gerät im RAW-Modus mit einem getrennten Header verwende und das alles einfach auf die neue Festplatte „klonen“ möchte.
Bearbeiten:Ich habe gerade wieder mit dieser SSD gebootet und es scheint zu funktionieren. Ich werde mir aber so schnell wie möglich eine neue SSD besorgen, da ich davon ausgehe, dass es keine gute Idee ist, diese hier zu verwenden. Im Folgenden sind die letzten Einträge in Syslos vor dem Absturz aufgeführt:
Antwort1
Der SMART-Status zeigt viele alte oder sterbende Indikatoren an, aber nichts schreit besonders „Das hat es zerstört!“.
Ihr Protokoll zeigt eine Einschaltdauer von 995 Tagen und 10 Stunden. Dies legt nahe, dass Sie Ihren Rechner dauerhaft eingeschaltet lassen. Dies ist an sich keine schlechte Sache, es bedeutet nur, dass das Laufwerk viele Stunden lang kleine Schreibvorgänge erlebt hat, da das Betriebssystem die Buchhaltung und die allgemeine Nutzung übernimmt.
Für mich sieht es so aus, als wäre die SSD einfach alt und abgenutzt. Der Perc_Rated_Life_Usedist überraschend niedrig, ebenso wieErase_Fail_Count
Was mir Sorgen bereitet, ist, dass Sie „regelmäßig“ 95 % oder mehr voll erreichen, was den Pool an leeren Blöcken verringert, die dem Wear-Levelling-Algorithmus zur Verfügung stehen, um seine Arbeit zu erledigen. Sie werden effektiv eine kleine Anzahl von Blöcken in Zeiten, in denen Sie nicht genug Platz haben, stärker beanspruchen, was zu einem kleinen Cluster von Blöcken mit einer enormen Anzahl an Schreibvorgängen führt, während der Durchschnitt auf dem Laufwerk ziemlich niedrig ist. Wenn Sie dies wiederholt tun, wird der Wear-Leveller wahrscheinlich zuerst die „besten“ (am wenigsten geschriebenen) Blöcke auswählen, in die geschrieben wird, aber wenn Sie 100 % voll erreichen, bleiben Ihnen die „schlechtesten“ Blöcke. Kombiniert man das mit allgemeinen Programmen und dem Betriebssystem, das seine Aufgaben ausführt, bedeutet das, dass Sie die schlechtesten Blöcke viel schneller verschleißen werden. Das ist eine perfekte Möglichkeit, die schlechtesten Teile des Laufwerks zu beanspruchen und es in ein frühes Grab zu schicken.
Sie zwingen die wichtigsten Dateisystem- und SSD-Buchhaltungsfunktionen effektiv in die schlechtesten Zellen, da diese wahrscheinlich regelmäßig auf das Laufwerk geschrieben werden, insbesondere wenn das SSD fast voll ist und früher oder später etwas Schlimmes passieren wird. Wenn Sie keine neu zuweisbaren Blöcke mehr haben und eine wichtige Struktur nicht verschoben werden kann, kann das Laufwerk sich selbst blockieren.
Deshalb wird gesagt, dass Sie immer versuchen sollten, eine gewisse Menge an Speicherplatz auf Ihrem Laufwerk frei zu halten, denn je weniger Speicherplatz Sie frei haben, desto stärker beanspruchen Sie den Bereich, derIstfrei.
Es ist möglich, dass Teile des Laufwerks durch das Alter und viele Schreibvorgänge auf kleine Blockgruppen abgenutzt sind.
Das Kopieren der benötigten Daten auf ein neues Laufwerk klappt höchstwahrscheinlich problemlos, da derartige Hardwarefehler nicht ansteckend sind.