내가 가 Solid State Disk되었나요 Super Slim Doorstopper?
긴 질문이라는 걸 알지만, 최대한 자세하고 유익한 정보를 제공하려고 노력했습니다. tl;dr질문의 전반부를 건너뛰세요. 하지만 거기에 있는 정보가 문제와 관련이 있을 수 있다고 생각합니다 .
무슨 일이에요
우선 저는 현재 폭염으로 몸살을 앓고 있는 지역에 살고 있습니다. 내 방의 실내 온도가 2~3주 동안 30°C 이하로 내려간 적이 없습니다. 낮부터 한밤중에도 34°C 이하로 내려간 적이 없습니다. 에어컨도 없고 팬도 거의 아무것도 하지 않습니다. 내 SSD의 온도. 센서가 고장난 것 같습니다(항상 5°C 보고). 내 HDD는 거의 항상 48°C, 54°C, 54°C였습니다. GPU는 약 60°C, CPU는 약 52°C입니다. 좋지는 않지만 그래도 나에게는 견딜 수 있을 것 같다.
어젯밤에 64GB SSD에서 아치 리눅스 PC를 사용하고 있었는데 모든 것이 멈췄습니다. 더 이상 기계에 SSH를 연결할 수도 없었습니다. 그래서 적어도 SSH 연결을 얻기 위해 30분을 기다린 후 전원을 꺼야 했습니다. 나는 audacity를 사용할 때 때때로 내 PC가 정말 느려질 수 있다는 점을 언급하고 싶습니다. (대담함은 NTFS 파일 시스템을 지원하지 않는 것 같고 내 SSD는 내가 가지고 있는 유일한 비 NTFS 파일 시스템이기 때문에 SSD에 임시 데이터를 씁니다.) 그리고 최근에는 나는 우연히 만났다이것SSD가 가득 차면 속도가 느려지는 것에 대한 질문입니다. 많은 대담한 기록으로 인해 내 SSD는 매일은 아니더라도 일주일에 여러 번 사용 공간의 95%가 증가한다고 말할 수 있습니다.
그래서 PC를 끈 후 다시 켜려고 했는데 BIOS 화면에서 모든 디스크를 살펴보았는데 SSD에 S.M.A.R.T. error. grub(다른 드라이브에서)을 시작하고 아치(다른 드라이브에서도 부팅 파티션)로 부팅을 시도한 후 메시지 Device /dev/mapper/mydisk-root not found또는 이와 유사한 메시지를 받았습니다 . mydisk-root내 LUKS 암호화 SSD의 볼륨 그룹 내의 루트 파티션이어야 합니다. 그래서 몇 번 재부팅을 시도했지만 항상 같은 결과를 얻었고, 결국 포기하고 PC를 끄고(PSU에서) 잠자기 상태로 들어갔습니다.
내가 수행한 다음 작업
깨어난 후 라이브 Linux USB를 부팅하여 SMART 스캔을 수행하고 dmesg가 무엇이든 살펴보고 싶었습니다. 갑자기 BIOS가 S.M.A.R.T. ok다시 말했습니다. 그래도 라이브 USB를 계속 사용했는데 평소처럼 SSD를 잠금 해제하고 마운트할 수 있었습니다. 문제 없이 전체 백업을 수행할 수 있었습니다.
그런 다음 SMART 테스트를 받으러갔습니다. 테스트 long는 50%에서 두 번 실패했습니다. 자세한 내용은 아래에 나와 있습니다. 테스트 short가 완료되었으며 결과에 나쁜 점은 없습니다. 제가 받은 마지막 SMART 테스트는 불과 2주 전이었습니다. long테스트(테스트 로그 참조)였고 모든 것이 괜찮았습니다.
질문 1: 내 SSD는 얼마나 좋은가요?
이것은 내가 모든 테스트를 시도한 SMART 속성 테이블의 출력 이므로 2주 전에 수행한 테스트 before의 결과여야 한다고 생각합니다 .long
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
-a다음은 오늘 테스트를 시도했지만 long실패한 전체 결과입니다 (테스트 로그 참조).
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 117) The previous self-test completed having
the read element of the test failed.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 3 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 4 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 5 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
오늘 -a시도한 테스트의 전체 결과는 다음과 같습니다.short
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x80) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Enabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 295) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 3) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 050 Pre-fail Always - 0
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 23891
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1063
170 Grown_Failing_Block_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
171 Program_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 10
172 Erase_Fail_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
173 Wear_Leveling_Count 0x0033 080 080 010 Pre-fail Always - 611
174 Unexpect_Power_Loss_Ct 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 244
181 Non4k_Aligned_Access 0x0022 100 100 001 Old_age Always - 302 89 212
183 SATA_Iface_Downshift 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 050 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 2
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
189 Factory_Bad_Block_Ct 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 58
194 Temperature_Celsius 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 001 Old_age Always - 0
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 001 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 100 100 001 Old_age Always - 1
202 Perc_Rated_Life_Used 0x0018 080 080 001 Old_age Offline - 20
206 Write_Error_Rate 0x000e 100 100 001 Old_age Always - 10
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 2
ATA Error Count: 0
CR = Command Register [HEX]
FR = Features Register [HEX]
SC = Sector Count Register [HEX]
SN = Sector Number Register [HEX]
CL = Cylinder Low Register [HEX]
CH = Cylinder High Register [HEX]
DH = Device/Head Register [HEX]
DC = Device Command Register [HEX]
ER = Error register [HEX]
ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.
Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 00 08 d0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 c8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 03 08 c0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 10 08 b8 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 08 b0 14 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
Error -1 occurred at disk power-on lifetime: 23890 hours (995 days + 10 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.
After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
00 50 00 d0 14 d1 40 at LBA = 0x00d114d0 = 13702352
Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- --------------------
60 d5 00 d8 13 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 00 00 d8 12 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 da 00 d8 11 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d0 00 d8 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
60 d1 80 58 10 d1 40 00 1d+05:22:14.080 READ FPDMA QUEUED
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 23891 -
# 2 Extended offline Completed: read failure 50% 23891 66387896
# 3 Extended offline Completed: read failure 50% 23889 66387896
# 4 Extended offline Completed without error 00% 23437 -
# 5 Short offline Completed without error 00% 564 -
# 6 Vendor (0xff) Completed without error 00% 558 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
나는 세 가지 속성 테이블이 모두 동일하다는 사실이 매우 재미있다고 생각합니다. 아니면 여기서 뭔가를 놓치고 있는 걸까요? 저는 SMART 전문가는 아니지만 제가 아는 바에 따르면 이 세 가지 결과는 모두 완벽한 결과입니다. (?) 아직 시도하지는 않았지만 파일을 마운트하고 가져오고 BIOS에서 이를 ok다시 보고하므로 다시 부팅할 수 있다고 가정합니다. 그래도 그래야 할까요?
질문 2: 왜 이런 일이 일어났나요?
이것은 단순히 노화된 것입니까, 아니면 SSD에서 지속적으로 대담함을 사용했기 때문에 발생한 것입니까?
SSD가 지속적으로 사용 공간의 90-100%에 도달하는 것과 관련이 있습니까?
어떻게 갈 수 있습니까?모든 게 괜찮아에게더 이상 SMART 테스트도 수행할 수 없습니다.단 2주 안에?
스마트 테스트 결과는 무엇을 말해주는가? 오늘 테스트 이후의 속성 테이블은 여전히 나에게 훌륭해 보입니다. 아니면 제가 틀렸습니까?
질문 3: 전염성이 있나요?
이 SSD가 고장나서 새 SSD를 구입한다면 간단히 dd if=/old/ssd of=/new/ssd괜찮을 수 있을까요, 아니면 문제가 발생할까요? 새 디스크로 이동하는 가장 좋은 방법은 무엇입니까? 저는 분리된 헤더가 있는 RAW 모드의 전체 장치에서 LUKS를 사용하고 있으며 모든 것을 새 디스크에 "복제"하고 싶습니다.
편집하다:방금 SSD로 다시 부팅했는데 작동하는 것 같습니다. 하지만 이것을 사용하는 것이 나쁜 생각이라고 생각하기 때문에 최대한 빨리 새 SSD를 얻을 것입니다. 다음은 충돌 전 syslos의 최신 항목입니다.
답변1
SMART 상태에는 오래되었거나 죽어가는 표시기가 많이 표시되지만 특별히 "이거 죽였어!"라고 비명을 지르는 것은 없습니다.
귀하의 로그에는 995일 10시간의 전원 켜기 수명이 표시되어 있습니다. 이는 컴퓨터를 영구적으로 켜두었다는 것을 의미합니다. 이는 그 자체로는 나쁜 일이 아니며, 단지 드라이브가 운영 중단으로 인해 많은 시간 동안 작은 쓰기 작업을 했다는 의미일 뿐입니다. 시스템은 장부 관리 및 일반 사용을 수행합니다.
나에게는 SSD가 오래되고 낡은 것처럼 보입니다. 놀랍게도 낮 Perc_Rated_Life_Used습니다.Erase_Fail_Count
제가 걱정되는 점은 95% 이상의 "정기적" 타격으로 인해 웨어 레벨링 알고리즘이 해당 작업을 수행하는 데 사용할 수 있는 빈 블록 풀이 줄어들 것이라는 것입니다. 공간이 부족할 때 실제로 적은 양의 블록에 더 큰 스트레스를 가하게 되어 엄청난 양의 쓰기가 가능한 작은 블록 클러스터가 생성되는 반면 드라이브 전체의 평균은 매우 낮습니다. 이 작업을 반복적으로 수행하면 웨어 레벨러가 먼저 쓰기 위해 "가장 좋은"(가장 적게 쓰여진) 블록을 선택하게 되지만, 100% 가득 차면 "최악의" 블록만 남게 됩니다. 이를 일반 프로그램 및 해당 작업을 실행하는 운영 체제와 결합하면 최악의 블록이 훨씬 더 빨리 마모된다는 의미입니다. 드라이브의 최악의 부분에 스트레스를 주어 초기 무덤으로 보내는 완벽한 방법입니다.
특히 SSD가 거의 가득 차고 조만간 나쁜 일이 발생할 경우 드라이브에 정기적으로 기록될 가능성이 높기 때문에 주요 파일 시스템 및 SSD 장부 관리 기능을 최악의 셀에 효과적으로 강제 적용합니다. 재할당 가능한 블록이 부족하고 키 구조를 이동할 수 없는 경우 드라이브 자체가 교착 상태에 빠질 수 있습니다.
이것이 바로 사람들이 항상 드라이브에 여유 공간을 확보하려고 노력해야 한다고 말하는 이유입니다. 여유 공간이 적을수록 해당 영역에서 작업하기가 더 어려워지기 때문입니다.~이다무료.
오래되고 작은 블록 그룹에 대한 과도한 쓰기로 인해 드라이브의 일부가 마모되었을 가능성이 있습니다.
필요한 것을 새 드라이브에 복사하면 문제가 없을 가능성이 크며, 이와 같은 하드웨어 오류는 전염되지 않는 경향이 있습니다.