私はもう 18 年以上 Windows を使っていて、自分をパワー ユーザーだと思っています。このラップトップは約 6 か月前に購入したものです) 仕様:
- 4 GBのRAMと
- Windows 7エンタープライズを実行
- 120 GB のソリッド ステート ドライブを搭載。
- インテル Core i5 M520、2.4GHz。
最初はかなり優れていたのですが、今では非常に遅くなりました。起動に時間がかかり、アプリの読み込み時間が長く、フォント選択の読み込みが遅く、1 つのディレクトリから別のディレクトリへのファイルのコピーが非常に遅い (約 25 KB/秒) です。
空きディスク容量は約 50 GB あります。
以前のように速くするにはどうすればいいでしょうか? おそらく以前の 3 ～ 4 倍遅くなります。
これまで何をしてきたか？タスクマネージャ（とパフォーマンスモニタ）を定期的に確認する以外は、特に何もしていません。
chkdsk- ディスクデフラグツール
腐敗を修復するためにどのようなツールや手順を利用できますか?
更新: 短いセルフテスト後の Smartmon の出力
C:\Program Files (x86)\smartmontools\bin>smartctl -a sda
smartctl 5.41 2011-06-09 r3365 [i686-w64-mingw32-win7(64)] (sf-win32-5.41-1)
Copyright (C) 2002-11 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: SAMSUNG MMCRE28G8MXP-0VBL1
Serial Number: S0ENNEAZ724347
Firmware Version: VBM1EL1Q
User Capacity: 128,035,676,160 bytes [128 GB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 7
ATA Standard is: ATA/ATAPI-7 T13 1532D revision 1
Local Time is: Wed Jul 27 22:12:49 2011 IST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 240) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 4) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 24) minutes.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
9 Power_On_Hours 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1343
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 827
175 Program_Fail_Count_Chip 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
176 Erase_Fail_Count_Chip 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 099 099 017 Pre-fail Always - 29
178 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Chip 0x0013 080 080 010 Pre-fail Always - 12
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 098 098 010 Pre-fail Always - 48
180 Unused_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 098 098 010 Pre-fail Always - 3792
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 253 253 000 Old_age Always - 0
233 Media_Wearout_Indicator 0x003a 199 199 000 Old_age Always - 292698
234 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
235 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
236 Unknown_Attribute 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 121
237 Unknown_Attribute 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 351
238 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 1342 -
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
C:\Program Files (x86)\smartmontools\bin>
更新2:
C:>fsutil 動作クエリ disabledeletenotify
削除通知を無効にする = 0
また、CPU 使用率が高くなることに気づいたので、「Windows Search」サービスを無効にしました。
他に何をすべきでしょうか?
答え1
すでに多くのことを確認していることを考えると、ソフトウェア/プログラムに実際には問題はなく、SSD 自体が速度低下の原因となっている可能性があります。
私が見つけた情報からここそしてこここの SSD は TRIM をサポートしていないようですが、内部のガベージ コレクターに依存しています。実行する機会を与えるために、少なくともディスク I/O をコンピューターに数時間与えたほうがよいかもしれません。
電源プランを最大に切り替え（スリープ状態にならないようにする）、ネットワーク接続をすべて無効にし（新しい更新が行われないようにする）、ウイルス対策ソフトウェアを無効にしてログオフします。その後、一晩待ってから、すべてを再びオンにして、改善されているかどうかを確認します。
答え2
おそらく冷却の問題でしょう。私の場合、Lenovo の場合、たいていはそれが原因に絞り込まれます。ファンが動作するか確認し、システム設定をチェックして、msconfig ユーティリティ (Google で検索) で使用しないサービスを無効にし、Symantec や F-Secure の代わりに AVG や NOD32 などのリソースをあまり消費しないセキュリティ ソリューションを使用して、HDD をデフラグし、ドライバーを更新してください。
答え3
情報によると、のように聞こえる何らかのハードドライブサブシステムのボトルネック。
システムのトラブルや速度低下をチェックするツールとしては、Windows 7に組み込まれているリソースモニター? (スタート→すべてのプログラム→アクセサリ→システム ツール→リソース モニター、または検索ボックスを使用します :) )
答え4
タスク マネージャーを調べて、すべてのユーザーについて、CPU、ワーキング セット (メモリ)、ハンドル、スレッド、ユーザー オブジェクト、GDI オブジェクト、I/O 読み取り、I/O 書き込みの列に不合理な値があるかどうかを確認すると役立ちます。
各列を降順に並べ替え、コンピューターがアイドル状態のときでも列の値が更新され続けるアクティブなプロセスを監視します。
セーフ モードで起動したときに問題が発生するかどうかもテストできます。問題が発生しない場合は、速度低下の原因はインストールした製品にあります。その場合は、セキュリティ関連の製品から始めて、インストールされているすべての製品を 1 つずつ無効にする必要があります。Windows 用の自動実行ここで役に立ちます。
セーフ モードで問題が解決しない場合は、ハード ディスクに問題がある可能性があります。SSD の製造元からディスク状態テスト製品を探してみてください (SSD の SMART データに確実にアクセスできるのは製造元だけです)。
ウイルス感染の可能性も常に存在します。複数のウイルス対策製品を使用してスキャンを実行してください。